AFM Digital Instruments NANOSCOPE IIIA

Il microscopio Nanoscope IIIA è un microscopio multifunzionale in grado di operare in diversi modi di scansione e permette l'osservazione di campioni di diversa natura potendo raggiungere una risoluzione atomica. Esso può funzionare sia come microscopio a forza atomica (AFM) che come microscopio ad effetto tunnel (STM). È possibile rilevare anche le caratteristiche topografiche elettriche e magnetiche delle superfici.

CARATTERISTICHE TECNICHE

Nanoscope IIIA SPM control station
 

Pentium 4 CPU 2.4 GHz
CD-ROM disk rewritable
Floppy disk 3.5"
monitor di sistema: 15"
monitor per l'analisi d'immagine: 17"
hard disk: 50 GB
SPM imaging software
Image Analysis software
Network Fast ethernet 10/100 Mb 

Nanoscope Multimode Microscope
 
Testa di misura per AFM e STM in contact mode e in tapping mode per campioni solidi in aria.
Cella per osservazione AFM in liquidi.
3 scanners disponibili per misure ad alta risoluzione:scansioni da 0.4 x 0.4 µm; range verticale: 0.4 µm
scansioni da 10 x 10 µm; range verticale: 2.5 µm
scansioni da 125 x 125 µm; range verticale: 5 µm
Phase extender
piattaforma antivibrante
 

Microscopio ottico
 
Microscopio Nikon: ingrandimento 200x
Telecamera CCD Panasonic ad alta risoluzione
Monitor: b/n, 12"

Stanza 13.04.0.021

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