AFM PARK XE-100
Il microscopio Park mod. XE-100 è un microscopio a forza atomica multifunzionale in grado di operare in diversi modi di scansione e permette l’osservazione di campioni di diversa natura, di piccole e medie dimensioni,potendo raggiungere una risoluzione atomica. Esso può funzionare sia in “contact mode” sia in “true non contact” mode. È possibile rilevare anche le caratteristiche magnetiche dei campioni in superficie (MFM).
CARATTERISTICHE TECNICHE
Scanners XY & Z separati. XY scanner : 50 µm
Controreazione “closed loop” oppure “open loop”
Ottica “on axis”
Z scanner: escursione max. 12 µm
Testa di misura per AFM in contact mode, true non-contact, dynamic contact, LFM, forza vs. distanza. Phase imaging.
Magnetic Force Microscopy (MFM)
Monitor 19” – LCD
Camera ad alta risoluzione (1032x778) con uscita digitale.
Secondo monitor 19” – LCD – per immagine ottica (campo visivo: 480 x 360 µm).
Dimensioni del campione max: 100 x 100 µm , altezza 20 µm.
Peso del campione max: 500g.
piattaforma antivibrante attiva TS 150.
Cabinet con schermatura acustica.
Dynamic Liquid Cell con riscaldatore/raffreddamento. Peltier utilizzabile tra 4 e 60 C.
Computer DELL OptiPlex 745 MT: processore Core Duo 2.13 GHz. RAM 1.0 Gb 667 MHz - Hard Disk 160 GB . Masterizzatore CD/DVD
Sistema operativo : Windows XP.
APPLICAZIONI
Queste tecniche consentono lo studio della morfologia superficiale di materiali solidi, per es. metalli, semiconduttori, ceramiche, o di macromolecole biologiche come DNA e proteine con risoluzione inferiore al nanometro. E’ possibile lo studio delle proprietà magnetiche (MFM) .
Stanza 13.04.0.021
0521 905134
